1.

図書
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1. 電子デバイス入門
飯田昌盛著
出版情報: 東京 : 東海大学出版会, 1984.12
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2.

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2. 集積ナノデバイス
平本俊郎編著 ; 内田建, 杉井信之, 竹内潔著
出版情報: 東京 : 丸善, 2009.11
シリーズ名: 半導体デバイスシリーズ / 權田俊一, 谷口研二編集 ; 1
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3.

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3. ディジタル素子とプロセス
菅野卓雄, 生駒俊明, 武石喜幸著
出版情報: 東京 : 岩波書店, 1985.7
シリーズ名: 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 1 . マイクロエレクトロニクス素子 / 菅野卓雄[ほか]著||マイクロ エレクトロニクス ソシ ; 1
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4.

図書
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4. 集積回路工学. 新版 (1: プロセス・デバイス技術編 ; 2: 回路技術編)
永田穰, 柳井久義共著
出版情報: 東京 : コロナ社, 2005.9-2007.10
シリーズ名: 大学講義シリーズ
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5.

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5. 電子デバイス
和保孝夫著 ; 電子情報通信学会編
出版情報: 東京 : コロナ社, 2013.5
シリーズ名: 電子情報通信レクチャーシリーズ / 電子情報通信学会編 ; C-14
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6.

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6. デバイスとプロセス ([その1] - その14)
西澤潤一編
出版情報: 東京 : 工業調査会, 1987.8-
シリーズ名: 半導体研究 / 半導体研究振興会編 ; 26, 28, 30, 32, 34, 36, 38, 40-46巻 . 超LSI技術||チョウ LSI ギジュツ ; 11-24
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7.

図書
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7. 半導体ICとその使い方
大内淳義編
出版情報: 東京 : 共立出版, 1974
シリーズ名: ソリッドステート回路シリーズ / 川上正光[ほか]編 ; 5
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8.

図書
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8. デバイス・部品の故障解析
二川清[ほか]著
出版情報: 東京 : 日科技連出版社, 1992.9
シリーズ名: 信頼性110番シリーズ ; 1
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9.

図書
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9. デバイス・部品の信頼性試験
高久清〔ほか〕著
出版情報: 東京 : 日科技連出版社, 1992.9
シリーズ名: 信頼性110番シリーズ ; 2
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10.

図書
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10. 集積回路技術
伝田精一
出版情報: 東京 : 工業調査会, 1967
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